X線定在波の位相計測を用いた分光測定の探査深度制御：Fe/Si界面への応用

Probing depth control of x-ray spectroscopies using phase measurement of
standing wave: application to the Fe/Si interface

講演者：　江島丈雄（東北大学　多元物質科学研究所）

Date + Time: July 30th, 11:30-12:05

Place: UVSOR Build. #304 (UVSOR Seminar room)

アブストラクト：
軟Ｘ線を用いた分光測定の深さ方向の検出感度は、検出する電子や光子の脱出深さに因っている。
この深さ方向の検出感度を変える手段の一つとして、反射多層膜がブラッグ条件を満足する際に生成される定在波
を利用する方法が考えられてきたが、定在波の位相制御に難点があった。講演では、最近我々が開発した定在波の
位相計測法とこの手法を用いて得たFe/Si界面の結果について紹介する。